1、晶體習(xí)性與幾何描述:
該晶體使用直拉法在晶體(100)方向延伸。圓柱形表面(表面光潔度小于2.5 μm RMS)。經(jīng)紅外成像法檢測晶體結(jié)構(gòu)穩(wěn)定可靠。晶體幾個結(jié)構(gòu)由直徑和長度決定。當(dāng)一個晶體屬于原生態(tài)晶體時,其當(dāng)量直徑為:
D ----外形尺寸當(dāng)量直徑
W----鍺晶體重量
L-----晶體長度
測量值是四舍五入最小可達(dá)到毫米級別。為了便于訂單出貨,我們會依據(jù)晶體的體積、直徑和長度進(jìn)行分類。同時我們可以滿足客戶的特殊需求,提供定制服務(wù)。
2、純度:殘留載荷
最大允許凈載流子雜質(zhì)濃度與探頭二極管的幾個構(gòu)造有關(guān),請參照如列公式。其純度依據(jù)據(jù)霍爾效應(yīng)測量和計算。
同軸探測器:同軸探測器適用于下列公式:
Nmax = 每立方厘米最大雜質(zhì)含量
VD = 耗盡層電壓 = 5000 V
εo = 介電常數(shù) = 8,85 10-14 F/cm
εr = 相對介電常數(shù)(Ge) = 16
q = 電子電荷1,6 10-19C (elementary charge)
r1 = 探測器內(nèi)孔半徑
r2 = 探測器外孔半徑
3、純度 :
假如晶體表面半徑減少2mm,由于鋰的漫射和刻蝕,內(nèi)徑8毫米的內(nèi)孔半徑, 適用公式變?yōu)椋?nbsp;
D = 晶體外表面
平面探測器:平面探測器(厚度小于2厘米)適用于以下公式:
d=探測器外觀尺寸厚度
徑向分散載荷子(絕對值)
遷移:霍爾遷移
性能: P 型晶體 μH ≥ 10000 cm2/V.s
N 型晶體 μH ≥ 10000 cm2/V.s
能級: P 型晶體 通過深能瞬態(tài)測量,Cutot ≤ 4.5*109 cm-3
N 型晶體 通過深能瞬態(tài)測量點(diǎn)缺陷 < < 5*108 cm-3
晶體主要指標(biāo): P 型晶體 N 型晶體
錯位密度 ≤ 10000 ≤ 5000
星型結(jié)構(gòu) ≤ 3 ≤ 3
鑲嵌結(jié)構(gòu) ≤ 5 ≤ 5
4、高純度高純鍺HPGe晶體說明:
高純鍺晶體 | ||
產(chǎn)地 | 比利時 | |
物理性質(zhì) | 顏色 | 銀灰色 |
屬性 | 半導(dǎo)體材料 | |
密度 | 5.32g/cm3 | |
熔點(diǎn) | 937.2℃ | |
沸點(diǎn) | 2830℃ | |
技術(shù)指標(biāo) | 材料均勻度 | 特級 |
光潔度 | 特優(yōu) | |
純度 | 99.999 999 99%-99.999 999 999 99%(10 N-13N) | |
制備方式 | 鍺單晶是以區(qū)熔鍺錠為原料,用直拉法(CZ)法或者垂直梯度法(VGF法)等方法制備的鍺單晶體。 | |
產(chǎn)品規(guī)格 | P、N型按客戶要求定制 | |
產(chǎn)品用途 | 電子元器件、紅外器件、γ輻射探測器 | |
P型N型高純鍺 | 在高純金屬鍺中摻入五價元素如銻、砷、磷等,得到n型鍺。 | |
交貨期 | 90天 |