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反宇宙射線超低本底HPGeγ譜儀
品牌:ORTEC
產(chǎn)地:美國
型號:HPGeγ
產(chǎn)品詳情

 

1、反宇宙射線超低本底HPGeγ譜儀概述     

        除反康普頓譜儀之外,當(dāng)前國內(nèi)采用反符合技術(shù)的反宇宙射線的低本底高純鍺譜儀方面已經(jīng)有典型的應(yīng)用,并達到國際先進水平。

詳細(xì)內(nèi)容可參考《核技術(shù)》第33卷第7期的論文:《用反符合和熱中子屏蔽降低γ譜儀本底》。 此系統(tǒng)采用物質(zhì)屏蔽與反符合技術(shù)相結(jié)合的方法,降低降低環(huán)境γ輻射和宇宙射線本底:

  • 50keV~2000keV積分本底采用反符合后降低10倍以上

  • 同時具有極低的天然核素γ射線峰本底,較通常物質(zhì)屏蔽的低本底HPGeγ譜儀探測靈敏度顯著提高。

  • 系統(tǒng)最低檢測限低至10-1Bq/kg以下。

2、反宇宙射線系統(tǒng)及對比結(jié)果

3、反宇宙射線低本底γ譜儀測量裝置結(jié)構(gòu)示意圖


4、典型環(huán)境γ射線本底計數(shù)率比較(HPGe相對效率100%)

科目

γ射線峰本底計數(shù)率(×10-3/S)

351.9kev

511kev

583.2kev

1460.8kev

一般物質(zhì)屏蔽低本底γ譜儀

10~100

30

5~10

20~100

反宇宙射線超低本底γ譜儀

0.1

1.0

0.1

0.5

 

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